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軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

產(chǎn)品型號：

所屬分類：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-10

簡要描述：日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
高測量分辨率
由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。
即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。
基重測量
操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）

詳細說明：

日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2


產(chǎn)品特點

  • 高測量分辨率

  • 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。

  • 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。

  • 基重測量

  • 操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）

  • 模型TOF-C2 * TOF-C的后繼機型
    測量方法非接觸式/電容式
    測量對象薄膜、粘性保護膜、防塵膜
    測量原理電容式

    日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

  • 產(chǎn)品規(guī)格
    測量厚度~ 500 微米
    測量長度10 至 10000 毫米
    測量間距1 毫米 ~
    最小顯示值0.01微米
    電源電壓AC100V 50 / 60Hz
    工作溫度限制5-40°C（測量時溫度變化1°C以內(nèi)）
    濕度35-80%（無冷凝）




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