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日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀

產(chǎn)品型號: HF-90R

所屬分類:

產(chǎn)品時間:2024-09-07

簡要描述:日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R
樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測量(單晶硅)
通過光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測量
通過示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理(軟件)

詳細(xì)說明:

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測量(單晶硅)
  • 通過光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測量
  • 通過示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理(軟件)

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀(請聯(lián)系我們)

測量范圍

約100至5,000μS
(電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi))

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測量(單晶硅)
  • 通過光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測量
  • 通過示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理(軟件)

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀(請聯(lián)系我們)

測量范圍

約100至5,000μS
(電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi))



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