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  • 日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22
    日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22

    日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22 半導(dǎo)體(各種材料)的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等,玻璃,金屬,化合物等的高精度非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)

    時間:2024-09-09型號:
  • 日本CAPTAIN六角形超聲波測厚儀UTP-47.10
    日本CAPTAIN六角形超聲波測厚儀UTP-47.10

    日本CAPTAIN六角形超聲波測厚儀UTP-47.10 先進的車載測量技術(shù), 使用超聲波自動測量工件的厚度

    時間:2024-09-09型號:
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    RWP20.50-UTP-WET日本CAPTAIN六角形超聲波測厚儀

    日本CAPTAIN六角形超聲波測厚儀RWP20.50-UTP-WET 飛機零件的后處理厚度控制是重要的過程。 當(dāng)前,使用手提型超聲波測厚儀,并且人手動測量并記錄該值。 由于測量大型工件(例如飛機機體)的厚度需要幾個小時,因此自動測量飛機上工件厚度的探測系統(tǒng)可以大大提高生產(chǎn)率。

    時間:2024-09-09型號:RWP20.50-UTP-WET
  • 日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
    日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

    日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列 通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。

    時間:2024-09-09型號:
  • 日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
    日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

    日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列 使用軟X射線(軟X射線)的厚度計(膜厚度計)。以非接觸方式(軟X射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。

    時間:2024-09-09型號:
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