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便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX”的原理及運用介紹

發(fā)布時間：2024-11-04　點擊量：74

便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX"的原理及運用介紹


測量原理

200TX測量原理
X 射線熒光光譜法 全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜法

全內(nèi)反射X射線熒光光譜法與普通X射線熒光光譜法的不同之處在于，光線以低于全反射臨界角的低角度入射到樣品表面，因此不會穿透樣品臺基板，可以由于不產(chǎn)生散射 X 射線，因此可以進行超痕量分析。

image.png

　　測量示例1（溶液分析）

解決方案分析
含有 Sc、Cr、Co、As 和 Sr 各 1 ng 的熒光 X 射線光譜

　　測量示例2（毛發(fā)分析）

頭發(fā)分析
30多歲男性頭發(fā)熒光X射線光譜


【特征】　●媲美ICP/原子吸收光譜儀的高靈敏度　●主機總重僅8kg　●可進行ppm至ppb級別的分析　●無需液氮或冷卻水　

[應(yīng)用]　●用于測試井水和河流　●用于分析土壤和玩具中的瀝濾水　●用于食品、制藥、法醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的現(xiàn)場分析


應(yīng)用實例

  • 毛發(fā)成分分析

  • 藥品分析（感冒藥）

  • 雨水分析

  • 混合標(biāo)準(zhǔn)溶液的分析

  • 指紋成分分析

  • 空氣顆粒物分析

OURSTEX200TX規(guī)格

 

測量原理　全內(nèi)反射X射線熒光光譜法
測量目標(biāo)　液體、飲用水、土壤滲濾液、污水等
測量元件　13Al～92U
狹縫機構(gòu)　X射線路波路
樣品臺　石英光學(xué)平板
設(shè)備重量　約8公斤
樣品室氣氛　氣氛
X射線額定輸出　0-48kV，最大0.2mA /48-50kV，最大0.175mA
探測器　電子冷卻 SDD
計數(shù)電路　數(shù)字處理方法（數(shù)字信號處理器）
測量條件　溫度：5-27℃
濕度：20-75%
電源：AC100V，5A
設(shè)備：D級安裝
其他選項　噴墨彩色打印機、鼠標(biāo)等

*引進OURSTEX200TX時，需提前向勞動基準(zhǔn)監(jiān)督署通報。